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1引言

正电子发射断层（PositronEmissionTomography，PET）是一种先进的核医学成像技术，其原理是探测正负电子湮灭时所产生的一对光子，根据光子的飞行时间确定发生湮灭的位置，同时根据光子的能量大小确定发生湮灭的正负电子数量。这些光子的飞行时间和能量大小需要通过PET成像系统的前端电子电路进行读出和处理，并通过图像重建最终获得医学图像［1］。专用集成电路芯片可以提高PET前端读出电路的稳定性以及数据采样和转换的速率，降低该系统的成本和功耗，但同时也使得它的可观察性、可测试性和可控制性大大降低［2］。

PET成像系统专用集成电路芯片包括前端弱信号读出电路、ADC和TDC（Time－to－DigitalConverter）等模块，因此它是一个数/模混合信号集成电路。目前针对数/模混合信号VLSI的测试技术主要是基于DSP的混合信号测试技术［3］，虽然这种基于DSP自动测试设备（AutomaticTestEquipment，ATE）的测试精度高，但是它的价格昂贵，测试成本高，而且操作复杂，不适应大规模推广使用。因此开发一种测试成本低、易操作的ATE是非常必要的，而且PET成像系统专用集成电路芯片通常工作在

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