中国国防部、米「核態勢見直し」について見解発表
- 在半导体领域，随着技术的不断演进，对CMOS（互补金属氧化物半导体）可靠性的要求日益提高。特别是在人工智能（AI）、5G通信和高性能计算（HPC）等前沿技术的推动下，传统的可靠性测试方法已难以满足需求。本文将探讨脉冲技术在CMOS可靠性测试中的应用，以及它如何助力这些新兴技术的发展。引言对于研究半导体电荷捕获和退化行为而言，交流或脉冲应力是传统直流应力测试的有力补充。在NBTI（负偏置温度不稳定性）和TDDB（随时间变化的介电击穿）试验中，应力/测量循环通常采用直流信号，因其易于映射到器件模型中。然而，结
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CMOS 可靠性测试 脉冲技术 AI 5G HPC 泰克科技
- 对于研究半导体电荷捕获和退化行为来说，交流或脉冲应力对典型的应力测试是一个有用的补充。NBTI（负偏置温度不稳定性）和TDDB（随时间变化的介电击穿）试验包括应力/测量循环。所施加的应力电压通常是一个直流信号，使用它是因为它更容易映射到器件模型中。然而，结合脉冲应力测试提供了额外的数据，允许更好地理解依赖频率电路的器件性能。传统上，直流应力和测量技术被广泛用于表征CMOS晶体管的可靠性，如由沟道热载流子注入（HCI）和时间依赖性介电击穿（TDDB）引起的退化。然而，随着新的可靠性测试的发展，如金属氧化物半
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脉冲电压 可靠性测试 脉冲应力
- 作为光源中的新兴力量，led的发光方式与传统光源截然不同。它是利用半导体PN节中的电子与空穴的复合来发光。...
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Hold LED照明 可靠性测试
- 引言 硅片级可靠性（WLR）测试最早是为了实现内建（BIR）可靠性而提出的一种测试手段。硅片级可靠性测试的最 ...
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硅片级 可靠性测试 详解
- 可靠性测试仪器的发展趋势 就像前文所指出的那样，可靠性测试需要与新器件的设计和新材料的使用密切关联 ...
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晶圆级 可靠性测试 器件开发
- 摘要 随着器件尺寸的持续减小，以及在器件的制造中不断使用新材料，对晶圆级可靠性测试的要求越来越高。在器件 ...
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晶圆级 可靠性测试
- 从硬件角度出发，可靠性测试分为两类： 以行业标准或者国家标准为基础的可靠性测试。比如电磁兼容试验、气候类环境试验、机械类环境试验和安规试验等。 企业自身根据其产品特点和对质量的认识所开发的测试项目
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实例 分析 可靠性测试 硬件
- 1、描述输入电压影响输出电压的几个指标形式⑴稳压系数① 绝对稳压系数K表示负载不变时，稳压 ...
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LED 电源 可靠性测试
- 1、描述输入电压影响输出电压的几个指标形式⑴稳压系数①绝对稳压系数K表示负载不变时，稳压...
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LED电源 可靠性测试 指标
- 就像摩尔定律驱动半导体几何尺寸的缩小一样，有关解决半导体可靠性问题的活动也遵循一个似乎有点可以预测的周期。例如，技术演进到VLSI时，为了保持导线的电路速度，引入了铝线连接。此时，很快就发现了电子迁移这类的可靠性问题。一旦发现了问题所在，就会通过实验来对退化机制进行建模。利用这些模型，工艺工程师努力使新技术的可靠性指标达到最佳。随着技术的进一步成熟，焦点转移到缺陷的降低上面。而随着ULSI的引入，由于使用了应力硅、铜和低K介电材料等，又开始一轮新周期。
随着引入的化合物材料的增加，可靠性方面的挑
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半导体 VLS 可靠性测试 晶体管
可靠性测试介绍
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